SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-09 13:13:48 浏览:9811
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 半导体发光二极管芯片测试方法 |
| 英文名称： | Measurement methods for chips of light emitting diodes |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术 >>
半导体分立器件 >>
微波、毫米波二、三极管 |
| ICS分类： |
电子学 >>
光电子学、激光设备
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| 发布部门： | 工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2009-11-17 |
| 实施日期： | 2010-01-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 归口单位： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司 |
| 起草人： | 鲍超、胡爱华、牟同升、李明远、彭万华 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 2010-01-01 |
| 页数： | 11页 |
适用范围
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 微波 毫米波二 三极管 电子学 光电子学 激光设备
【英文标准名称】:Gaps,gatesandstiles-Specification
【原文标准名称】:通道、大门和旋转栅门.规范
【标准号】:BS5709-2001
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2001-06-15
【实施或试行日期】:2001-06-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:性能试验;小路;大门;物障;旋转栅门;性能;栏栅;现场试验
【英文主题词】:Barriers;Fences;Fieldtesting;Footpaths;Gates;Performance;Performancetesting;Stiles
【摘要】:ThisBritishStandardspecifiesfield-measurableperformancerequirementsforgaps,gatesandstilesforfootpathsandbridleways.Itprovidesahierarchyofperformancerequirementstoenablechoicestobemadeastowhichtypeofstructureismostappropriateingivencircumstances.ThisBritishStandarddoesnotapplytostileswithmovingparts.
【中国标准分类号】:Q70
【国际标准分类号】:91_090
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Firefightingequipment.Unfreezingpillarhydrant100and2X100.Specifications.
【原文标准名称】:消防和救护设备.100mm和2X100mm地面不冻结消火栓
【标准号】:NFS61-213-1990
【标准状态】:作废
【国别】:法国
【发布日期】:1990-04-01
【实施或试行日期】:1990-04-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:消防设备;材料规范;设计;机械性能;试验;包装;消防栓;检验;液压特性;尺寸;作标记;水力学;包装件;消防;材料的机械性能;定义;规范
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:C84
【国际标准分类号】:13_220_10
【页数】:19P;A4
【正文语种】:其他
