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DIN 49646 T.13-1990 IEC灯座塞规.G32d.G32q.GX32d和GY32d型插座的最大插入力检测用"B"型量规

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 10:41:15  浏览:9586   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:IECpluggaugesforlampholders;"B"pluggaugesforcheckingmaximuminsertionforceintypesG32d,G32q,GX32dandGY32dlampholders
【原文标准名称】:IEC灯座塞规.G32d.G32q.GX32d和GY32d型插座的最大插入力检测用"B"型量规
【标准号】:DIN49646T.13-1990
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:


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【英文标准名称】:Aerospaceseries-Bolts,normalbi-hexagonalhead,steppedshank,longthread,intitaniumalloy,anodized,MoSlubricated-Classification:1100MPa(atambienttemperature)/315℃
【原文标准名称】:航空航天系列.MoS2润滑阳极电镀标准双六角长螺纹钛合金制螺钉.分类:1100MPa(环境温度)/315℃
【标准号】:BSEN4137-2009
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2009-07-31
【实施或试行日期】:2009-07-31
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:航空航天运输;航空运输;阳极化的;十二角头;十二角螺钉;交货条件;名称与符号;尺寸规格;紧固件;减荷螺杆;螺钉;航天运输;规范(验收);表面处理;钛合金;重量
【英文主题词】:Aerospacetransport;Airtransport;Anodised;Bihexagonalheads;Bihexagonalscrews;Deliveryconditions;Designations;Dimensions;Fasteners;Relievedshanks;Screws(bolts);Spacetransport;Specification(approval);Surfacetreatment;Titaniumalloys;Weights
【摘要】:Thisstandardspecifiesthecharacteristicsofbolts,normalbi-hexagonalhead,steppedshank,longthread,intitaniumalloy,anodized,MoSlubrificated.Classification:1100MPa/315℃
【中国标准分类号】:V20
【国际标准分类号】:49_030_20
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part5:Steady-statetemperaturehumiditybiaslifetest(IEC60749-5:2003);GermanversionEN60749-5:2003
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验
【标准号】:EN60749-5-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-09
【实施或试行日期】:2003-09-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体;元部件;寿命;温度试验;试验;集成电路;电子工程;气候试验;电气工程;半导体器件;气候;环境试验;机械试验;电学测量;电子设备及元件;水分检验
【英文主题词】:Climate;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Integratedcircuits;Life(durability);Mechanicaltesting;Moisturetest;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperaturetest;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语



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