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DIN 41850-4-1976 薄膜集成电路.第4部分:材料、厚膜电阻成分的评价方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 17:00:20  浏览:8031   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Integratedfilmcircuits;material,methodsforjudgementofthickfilmresistorcompositions
【原文标准名称】:薄膜集成电路.第4部分:材料、厚膜电阻成分的评价方法
【标准号】:DIN41850-4-1976
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1976-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:集成电路;材料;动量
【英文主题词】:integratedcircuits;materials;momentum
【摘要】:Integratedfilmcircuits;material,methodsforjudgementofthickfilmresistorcompositions
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:德语


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【英文标准名称】:Manufacturingprocessesformingundertensileconditions-Part1:General;Classification,subdivision,termsanddefinitions
【原文标准名称】:拉伸成形加工工艺.第1部分:总则.分类、细分类、术语和定义
【标准号】:DIN8585-1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2003-09
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:分类;拉伸条件的成形;加工工艺;材料变形加工;定义;分段
【英文主题词】:formingundertensileconditions;subdivisions;definitions;productionprocesses;classification;definition;material-deformingprocesses;classifications
【摘要】:Formingundertensileconditionsisitegratedintothesystemofmanufacturingprocessesndsubdividedintoindividualprocesses.Theindividualprocessesbelongingtoformingundertensileconditionsaredefined.
【中国标准分类号】:J30
【国际标准分类号】:01_040_25;25_020;25_120_99
【页数】:4P;A4
【正文语种】:德语


基本信息
标准名称:光学和光学仪器 环境试验方法 第7部分:滴水、淋雨
英文名称:Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 7:Resistance to drip or rain
中标分类: 仪器、仪表 >> 光学仪器 >> 光学仪器综合
ICS分类: 成像技术 >> 光学设备
替代情况:替代GB/T 12085.7-1989
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-01-14
实施日期:2011-05-01
首发日期:1989-12-29
作废日期:
主管部门:全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103)
提出单位:中国机械工业联合会
归口单位:全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103)
起草单位:宁波永新光学股份有限公司、上海理工大学
起草人:曾丽珠、章慧贤、冯琼辉、张燕珂
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-05-01
页数:12页
书号:155066·1-42814
适用范围

本部分规定了滴水、淋雨试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。
本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。
本试验目的是研究试样的光学、热学、机械学、化学和电学特性受到滴水、淋雨影响的变化程度。

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所属分类: 仪器 仪表 光学仪器 光学仪器综合 成像技术 光学设备

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